金相顯微鏡應(yīng)用之半導(dǎo)體芯片檢測(cè)
近幾年,大家圍繞半導(dǎo)體芯片的話題從未間斷,如汽車智能化,手機(jī),智能家電,航空航天科技等都離不開的核心部件就是芯片。半導(dǎo)體需求量如此之大,他的質(zhì)量保障也將成為廠家非常關(guān)心的,今天匯光科技小編給大家展示我司為客戶做的金相顯微鏡應(yīng)用之半導(dǎo)體芯片檢測(cè)。
1、半導(dǎo)體芯片內(nèi)部集成線路檢測(cè),主要檢測(cè)線路板內(nèi)部構(gòu)造情況。
2、半導(dǎo)體內(nèi)部圓尺寸測(cè)量,除了圓測(cè)量,我們還能進(jìn)行長(zhǎng)寬測(cè)量,角度測(cè)量等多種平面測(cè)量,具體看您需求。
3、半導(dǎo)體芯片引線鍵合檢測(cè),我們采用景深合成功能,可觀察有高低差的引線鍵合情況。
4、晶圓氧化層厚度檢查,采用金相顯微鏡MX8R檢測(cè)晶圓氧化層厚度,在檢測(cè)時(shí),我們?yōu)榭蛻舾恿思t色濾色片才能觀察到具體效果。
5、半導(dǎo)體晶圓切割檢查,主要是判斷切割機(jī)在切割過程中是否損壞芯片邊緣。
由于本欄目展示有限,匯光科技主要給大家展示這5個(gè)金相顯微鏡應(yīng)用之半導(dǎo)體芯片檢測(cè),感興趣或有需要的朋友可直接電話咨詢,期待來電蘇州匯光科技。