芯片分析，找專用芯片分析顯微鏡哦。今天小編簡(jiǎn)單和大家說(shuō)說(shuō)芯片失效分析。

芯片失效分析主要是為了將失效原因找出，并及時(shí)采取有效措施，以避免造成更大的損失。芯片失效分析過(guò)程中，需要用到許多儀器，金相顯微鏡就是其中一款，它主要檢查內(nèi)容如下：

1、制備樣片的金相顯微鏡分析。

2、各種缺陷的查找。

3、樣品外觀、形貌檢測(cè)。

好的芯片失效分析顯微鏡不僅能快速檢測(cè)芯片失效原因，還有利于用戶產(chǎn)品質(zhì)量及可靠性提高，提高用戶經(jīng)濟(jì)效益，同時(shí)失效分析也是仲裁失效事故，開(kāi)展技術(shù)保險(xiǎn)業(yè)務(wù)及對(duì)外貿(mào)易索賠的重要儀器等等。總之芯片失效分析顯微鏡應(yīng)用尤為廣泛，小編就不在此一一列舉了，詳情大家可直接電話咨詢我們。

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